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  • 它是一种延迟测量设备,支持所有类型的薄膜,例如用于 OLED 的偏光板、层压延迟膜和带有 IPS 液晶延迟膜的偏光板。 实现与超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度测量。 可以“无损、无剥离”地测量薄膜的层压状态。 此外,它还配备了简单的软件和校正功能,支持因样品重新定位而导致的错位,可轻松实现高精度测量。
  • 评估和分析不断发展的 FPD 制造过程中的各种薄膜
  • 支持从反射/透射型 LCD 填充单元到带滤色器的空单元的各种单元
  • 非常适合FPD生产过程中的所有检测,如滤色片光学特性检测和玻璃基板膜厚检测。
  • 可检测单线态氧(活性氧)
  • 可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
  • 可以立即测量优良量子效率(优良量子产率)。与粉末、溶液、固体(薄膜)和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外,通过采用积分半球单元,可以实现明亮的光学系统,并通过利用这一点重新激发荧光校正,可以进行高精度的测量。此外,QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性,并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
  • 它是一种可以与生产线的控制信号同步,高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息,例如 NG 判断和分类。
  • “光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・ 可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通过专用软件进行测量和照明 电源也是集体控制 这个设备追求到精良的基础照度测量。
  • 评估光源在紫外线区域的辐射。 ・ 通过光谱辐射度测量高精度测量亮度 ・ 支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围 ・ 可以进行光生物 安全性评估 它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
  • “紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光的宽测量波长范围 ・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。 体育娱乐网址平台咨询
  • 评估 UV LED 的光分布特性。 ・基于辐射强度/辐照度的光分布评估 ・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度 可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
  • 评估 UV LED 的辐射通量。 ・ 性能更高的紫外线 LED 的输出评估 ・ 温度评估与温度控制单元相结合 支持 紫外线 LED 的 光学特性评估,预计将被**、净化和树脂固化。
  • 它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。 ・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性 。繁琐操作要求 测量精度高集成半球,样品组方便 测量大功率激光光源瓦级对应 测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验,满足需求支持。
  • 一种测量照明设备配光特性的装置。 ・使用内部开发的分光镜实现高精度测量! -颜色可以与光分布数据一起测量!- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量! ・可根据配光测量结果进行照度分析!!! -符合标准测量系统!
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