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  • 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度优良反射率(多层OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度,光学常数) 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外) 区域传感器的安全机制 易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
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  • ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统 此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位・粒径及分子量。 粒径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围(0.00001%~40%)。实测电气渗透流,高精度的ZETA电位测量,*小容量是130μL~的一次性cell
  • ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统 此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位・粒径及分子量。 粒径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围(0.00001%~40%)。实测电气渗透流,高精度的ZETA电位测量,*小容量是130μL~的一次性cell
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  • 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度优良反射率(多层膜厚度,光学常数) 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外) 区域传感器的安全机制 易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
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